● Texture性能测试：二维卷积
由于HD7950与HD7970拥有相同的几何端、光栅化单元和输出端，显存控制器也完全相同，因此CU的规模就成了两者惟一的区别。我们已经通过测试了解了Tahiti构架CU中ALU团簇部分因缓冲密度不同而产生的性能差异。接下来我们将要展开的测试，将围绕着CU中的另一个重要组成部分——Texture Array展开。
Texture Array可以通过VTF操作灰度数据
我们在前面提到过，在传统手段中想要单纯测试体系的TMU性能是相当困难的事情。幸运的是，TMU对材质的诸多操作过程，包括抽离材质的颜色信息，将之转化成灰度数据，再将其与顶点数值进行对照并辅以相关的操作等等，本质上就是对像素数据数组的一系列操作。因此GPCBenchmark对于二维卷积性能的测试，可以让我们将TMU性能转化成单纯的TMU动作能力以及与相关缓冲互动能力的测试。
二维卷积运算
卷积过程的应用领域极为广泛，其在统计学、概率论、声学研究、以及电子信号处理领域都有广泛的涉及，任何一个存在于世界上受物理学支配的线性系统均包含卷积过程。用TMU单元对卷积过程进行运算，可以考验TMU处理数据类型完全相同的材质过程时的性能，同时还能避开来自几何、光栅化以及输出过程的诸多干扰。
由于Tahiti构架的Texture cache资源相当丰富，再加上Texture Array的动作方式远比ALU面对shader时要来的规整和平滑，所以HD7950的二维卷积性能随频率的增长并未与HD7970存在不同，两者维持着大体相当的性能差异。这表明Tahiti构架的材质性能是相对稳定的，不会因为频率的提升而大幅变化，同时也未从缓冲密度的提升中获得太多好处。
推荐经销商